下列属于DFT故障模型的是：

正确选项：A、B、C、D。 解析：DFT（Design for Test，可测试性设计）中的故障模型用于描述电路中可能出现的物理缺陷或行为异常，是测试生成和故障仿真的基础。本题四个选项均为常见且经典的DFT故障模型： - A. stuck-at（固定故障）：假设信号线恒为逻辑0或1，是最基础、最广泛使用的故障模型，适用于检测短路、断路等永久性缺陷。 - B. transition-delay（转换延迟故障）：关注信号在上升沿或下降沿时是否能在规定时间内完成跳变，用于检测时序相关缺陷（如门延迟过大、工艺偏差等）。 - C. bridge（桥接故障，题目拼写为“brige”，应理解为bridge）：描述两根或多根信号线之间意外短接导致的逻辑错误，常见于深亚微米工艺中。 - D. IDDQ（静态电流故障）：通过测量电源静态电流判断电路是否存在异常漏电，可检测晶体管级缺陷（如栅氧化层击穿、桥接等），属于基于电流的故障模型。 易错点： 1. 部分考生可能认为IDDQ仅是一种测试方法而非故障模型，但实际上IDDQ测试依赖于漏电流异常模型，属于故障模型范畴； 2. “transition-delay”常与“path-delay”混淆，但前者为故障模型，后者为测试方法； 3. 拼写错误“brige”可能干扰判断，但结合选项含义应理解为bridge。 综上，四个选项均属于DFT故障模型，故全选。