有关DFT，以下说法不正确的是?

正确答案是D。A选项：主流的扫描链设计采用Mux-DFF结构，即在每个触发器前增加一个多路选择器，在测试模式下将触发器串接成扫描链，实现测试向量移入和响应移出，说法正确。B选项：扫描设计规则要求时钟和复位信号在测试模式下必须可控，以确保扫描链移位和捕获操作的正确性，避免时钟偏移或复位误动作，说法正确。C选项：MBIST（Memory Built-In Self-Test）是内建自测试的一种，专门用于对存储器阵列进行测试，通过内部生成的测试算法检测存储单元故障，说法正确。D选项：ECO（Engineering Change Order）是设计后期针对功能或性能的小范围修改，若修改涉及DFT逻辑（如扫描链连接、测试时钟复位控制等），必须同步更新DFT网表并重新验证，否则可能导致扫描链断裂、测试模式失效或测试覆盖率下降。因此，ECO时需关注DFT网表，D选项“无需关注”说法错误。