下列属于DFT质量的衡量指标有：

正确答案为A、B、C。DFT（Design for Test，可测性设计）质量的衡量指标主要包括测试覆盖率、测试电路面积开销和测试时间，而故障模型是测试方法的基础，不是直接的衡量指标。 A、测试覆盖率：表示测试向量能够检测到的故障比例，是评估测试充分性的核心指标，覆盖率越高，芯片生产后漏检缺陷的概率越低。 B、测试电路面积开销：DFT会引入额外的测试逻辑（如扫描链、BIST等），这些逻辑会占用芯片面积，增加制造成本，因此面积开销是DFT设计必须权衡的指标。 C、测试时间：指完成一次完整测试所需的时间，直接影响测试成本（测试机台占用时间），较短的测试时间可降低总生产成本，是衡量DFT效率的重要指标。 D、故障模型：如固定故障模型、跳变故障模型、延迟故障模型等，是用于抽象物理缺陷的数学模型，是计算测试覆盖率的基础，而不是衡量DFT质量本身的指标。DFT质量评估关注的是测试方案的实际效果（覆盖率、开销、时间等），而故障模型的选择会影响这些指标的计算方式，但本身不是质量度量。 易错点：部分考生可能误选D，认为故障模型是测试的一部分，但故障模型是测试向量生成和覆盖分析的底层假设，并非直接衡量DFT设计优劣的指标。DFT质量指标应反映测试的有效性、经济性和效率。