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影响CMOS电路动态功耗的因素有哪些:

A.工艺 B.翻转率 C.供电电压 D.温度
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参考答案

正确选项:A、B、C。CMOS电路动态功耗由公式 P_dynamic = C_L × V_DD² × f × α 决定,其中 C_L 为负载电容(受工艺影响,如栅氧厚度、互连线电容等),V_DD 为供电电压,f 为时钟频率,α 为翻转率(即活动因子)。因此工艺(A)通过影响 C_L 间接影响动态功耗;翻转率(B)直接影响 α;供电电压(C)直接影响 V_DD 的平方项。温度(D)主要影响漏电流(静态功耗)以及载流子迁移率,但对动态功耗公式中的参数无直接关系,故不是动态功耗的直接因素。

涉及知识点

  • CMOS动态功耗公式 P=CL×V²×f×α
  • 工艺影响负载电容CL
  • 翻转率α即活动因子
  • 供电电压V的平方项影响
  • 温度主要影响静态功耗
  • 动态功耗与时钟频率成正比
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